держатель образца

См. также в других словарях:

• допускаемые размеры исследуемого образца — Наибольшие размеры образца, позволяющие осуществить его установку в держатель образца. [ГОСТ 16865 79] Тематики рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ …   Справочник технического переводчика

• Допускаемые размеры исследуемого образца — 7. Допускаемые размеры исследуемого образца Наибольшие размеры образца, позволяющие осуществить его установку в держатель образца Источник: ГОСТ 16865 79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

• ГОСТ 30402-96: Материалы строительные. Метод испытания на воспламеняемость — Терминология ГОСТ 30402 96: Материалы строительные. Метод испытания на воспламеняемость оригинал документа: 7.5. Вспомогательное оборудование 7.5.1. Держатель образца представляет собой плоский металлический лист, на верхней поверхности которого… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

• Рентгеновская камера —         прибор для изучения или контроля атомной структуры образца путём регистрации на фотоплёнке картины, возникающей при дифракции рентгеновских лучей (См. Дифракция рентгеновских лучей) на исследуемом образце. Р. к. применяют в рентгеновском… …   Большая советская энциклопедия

• вспомогательное оборудование — 3.30 вспомогательное оборудование: Любое оборудование, наличие или отсутствие которого влияет на выходную мощность двигателя. Источник …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

• ГОСТ 16865-79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения — Терминология ГОСТ 16865 79: Аппаратура для рентгеноструктурного и рентгеноспектрального анализов. Термины и определения оригинал документа: 6. Абсорбционный рентгеновский спектрометр Определения термина из разных документов: Абсорбционный… …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации

• Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope)  сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес …   Википедия

• КАТОДОЛЮМИНЕСЦEНТНЫЙ МИКРОАНАЛИЗ — неразрушающий метод локального анализа полупроводников и диэлектриков, основанный на катодолюминесценции разновидности люминесценции, к рая возбуждается первичным пучком электронов (микрозондом) и возникает вследствие излучат, рекомбинации… …   Химическая энциклопедия

• дифракция быстрых электронов — Термин дифракция быстрых электронов Термин на английском reflection high energy electron diffraction Синонимы Аббревиатуры ДБЭ, RHEED Связанные термины дифракция медленных электронов Определение метод исследования структуры поверхности твердых… …   Энциклопедический словарь нанотехнологий

• Дифракция быстрых электронов — сокр., ДБЭ (англ. reflection high energy electron diffraction сокр., RHEED)  метод исследования структуры поверхности твердых тел, основанный на анализе картин дифракции электронов с энергией 5 100 кэВ, упруго рассеянных от исследуемой… …   Википедия

• Перпендикулярность — 4.16 Перпендикулярность: а) поверхности 6 к поверхностям 7 и 9; Источник: ГОСТ 2110 93: Станки расточные горизонтальные с крестовым столом. Нормы точности оригинал документа …   Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации